在所有的电子元器件(Device)的制造工艺里面，存在着去伪存真的需要，这种需要实际上是一个试验的过程。为了实现这种过程，就需要各种试验设备，这类设备就是所谓的ATE(Automatic Test Equipment)。 这里所说的电子元器件 DUT(Device Under Test)，当然bao括IC类别，此外，还bao括分立的元件，器件。ATE存在于前道工序(Front End)和后道工序(Back End)的各个环节，具体的取决于工艺(Process)设计的要求。
ATE检测系统作用
实现产品设计和测试信息的共享和重用，实现TPS的可移植、重用与互操作；实现测试仪器的可互换；促进测试软件和测试软件工具的发展、集成与便捷使用；实现产品的集成诊断与综合健康管理；实现测试开发编程语言与环境的多样性。
ATE的组成
测试结果、测试描述、仪器描述、测试适配器、测试配置、测试站（系统）、UUT描述和诊断信息描述
ATE自动检测系统的发展趋势必定会直线上升，当今互联网技术非常成熟，将它运用到工业中就是天作之合。
ATE检测系统主要还是内部软件的实现。软件体系结构的构建模式一般分为：管道过滤模式、面向对象模式、事件驱动模式、分层模式、解释器模式。ABBET标准采用分层模式的软件体系结构，每一层为上层提供fu务，同时又是下一层的客户，层次间fu务与信息交互的规格有明确的定义，而实现细节则由用户灵活掌握。分层结构降低了复杂测试软件各部分间的耦合程度，支持功能模块的重用，也便于系统的扩展。
