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CME-EL电致发光外量子效率测量系统
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CME-EL电致发光外量子效率测量系统
CME-EL电致发光外量子效率测量系统

CME-EL电致发光外量子效率测量系统

CME-EL电致发光外量子效率测量系统 相关信息由 中科微能(北京)科技有限公司提供。如需了解更详细的 CME-EL电致发光外量子效率测量系统 的信息,请点击 https://www.qiyeku.com/b2b/microenergyc.html 查看 中科微能(北京)科技有限公司 的详细联系方式。

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中科微能(北京)科技有限公司

中科微能(北京)科技有限公司以实验室光源、光电仪器、光电化学、催化微反等专业实验室仪器和测试系统开发为主。产品涵盖:1)太阳能模拟器、氙灯、钨灯、LED光源和激光器等各类专业光源;2)可调单色光源、光谱响应、电学性质、表面光电压、内外量子效率测试等各类光谱测试器件和系统;3)光电化学测试系统。产品主要应用:实验室科学研究、绿色油墨及LED型特种油墨开发、包装防伪材料开发、荧光油墨开发、光电测试分析、光化学及光催化、光降解污染、光电转换、太阳能电池研究等领域。
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CME-EL电致发光外量子效率测量系统(EQE)是一种紧凑,操作便捷,可在手套箱内完成搭建。发光材料的特征体现在它们的荧光量子产率。对于诸如有机和无机LED的发光器件,相应的物理特征表现值是外量子效率,通常通过电致发光(ELelectroluminescence)方法测量。

主要特点:

l可以测量L(cd/m2)、LmEff(cd/A)、EQE和CIE1931;

l光谱仪系统采用制冷型CCD信噪比高、杂散光低;

l体积小巧:便于灵活使用及运输;

l坚固、紧凑的设计,可以***限度减少实验室空间;

l专业软件,操作简单;软件显示:J-V曲线、L-J曲线、LmEff-J曲线、EQE-J曲线、CIE1931 XYGraph曲线。

 

技术参数

光谱仪

型号

CME-QE2000(可选)

光谱范围(nm)

300-1100nm

光谱仪分光元件

全息成像光柵

感光元件

电子冷卻型CCD影像感测器

信噪比

1000:01:00

分辨率

2.5nm(FWHM)

积分球

尺寸

100mm

涂层材质

Sperctralon

源表

型号

Keithley2400

光纤

芯径

800um

 


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