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关键词：  Optotherm IS640 SENTRIS，Thermal Emission Microscope system

1. 它的应非常广泛，去封装的芯片，未去封装的芯片，容，FPC,甚小尺寸的路板（PCB、PCBA）,这也就让你可以在样品的不同阶段都可以使thermal术进，如下图示例，样品路板漏定位到某QFN封装器件漏，将该器件拆下后现漏善，该器件焊引线来，未封定位为某引脚，封后针再做，进一步确认为晶圆某引线位置漏导致，如有需要可接着做SEM,FIB等。

未封器件

封器件

2. 它能测的半导体缺陷也非常广泛，微安级漏，低阻抗短路，ES击伤，闩效应点，属层部短路等等，而容的漏和短路点定位，FPC,PCB,PCBA的漏，微短路等也能够jq定位

lock-in相

封芯片漏

GAN-SIC器件

3，它是无损：为日常的失效，往往样品量稀少，这就要求失效术{zh0}是无损的，而于某些例如陶瓷容和FPC的缺陷，虽然测能测存在缺陷，但是具体缺陷位置，市的无损如XRAY或超声波，却很难进定位，只能通过样品进破坏性切片，且只能随机挑选位置，而通过Thermal 术，你需要的只是给样品，就可以述两种缺陷进定位

FPC缺陷

容缺陷

4,相热成像（LOCK IN THERMOGRAPHY）：相术，将温度分辨率高到0.001℃，5um分辨率镜头，可以测uA级漏流和微短路缺陷，远由于传统热成像及液晶热点测法（0.1℃分辨率，mA级漏流热点）

5，系统能够测量芯片等微观器件的温度分布，了一种速测热点和热梯度的有效手段，热分布不仅能显示缺陷的位置，在半导体领域

在集成路操期间，内部结加热导致接处的热量集中。器件中的峰值温度处于接处本身，并且热从接部向外传导到封装中。因此，器件操期间的jq结温测量是热表征的组成部分。

芯片附着缺陷可能是由于诸如不充分或污染的芯片附着材料，分层或空隙等原因引起的。Sentris热工具（如 图像序列）可于评估样品由内到外的热量传递过程，以便确定管芯接的完整性。

OPTOTHERM Sentris 热射显微镜系统为一台专为缺陷定位的系统，专为子产品FA设计，通过特别的LOCK-IN术，使LWIR镜头，仍能将将温度分辨率升到0.001℃（1mK），同时光学分辨率{zg}达到5um,尤其其系统经过多年的优化，具有非常易和实，以下是OPTOTHERM Sentris 热射显微镜系统过程的说明视频

LEADERWE (‘Leaderwe intelligent international limited ‘and ‘ShenZhen Leaderwe Intelligent Co.,Ltd‘)为Optotherm公司中国表（独理），在深圳设立optotherm红外热应实验室，负责该设备的演示和售，如有相关应，可免费评估测试。

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红外热成像仪（热成像仪或红外热成像仪）是通过非接触测红外能量（热量），并将其转换为号，进而在显示器成热图像和温度值，并可以温度值进计算的一种检测设备。
1.根据热像仪分测原理可以分为光子测和热测两种
热成像仪有光子测和热测两种不同的原理。前者主要是光子在半导体材料产的效应进成像，敏感度高，但测器本身的温度会其产影响，因而需要降温。热测器是指测元件吸收入射的红外辐射能量而引起温升，在此础借助各种物理效应把温升转变成量的一种测器。敏感度不如前者但是无需冷。
由于热测器是辐射引起物体的温升效应，因此，它任何波长的辐射都有响应，所以称热测器为无选择性测器，这是它同光子测器的一大差别。热测器的展比光子测器早，但如今一些光子测器的测率已接近背景限，而热测器的测率离背景噪声限还有很大差距。
2.根据热像仪工的波段可以分为长波、短波、中波红外热像仪
还根据热成像仪的工波段、所使的感光材料进分类。常见热成像仪工在3到5微或8到12微，一般把8-12微称为长波段红外热像仪，3-5微称为短波红外热像仪，5-8微是中波红外热像仪，这些都各有各的优缺点，常感光材料则有硫化铅、硒化铅、硫化锢、硫锡铅、硫镉、掺杂储和掺杂硅等。一般来说冷型的红外热像仪采的硫锡铅、硫镉等，非冷的红外热像仪采的是多晶硅，氧化钒等。
3.根据感光元件数量和运动方式，则有机械扫描、凝视成像型等。
4.根据是否测温红外热像仪又分为成像型和测温型，一般来说现在市面测温型的红外热像仪价格比成像型的价格高一些。成像型的红外热像仪画面表现为温度分布，但是并不具备测温的功能。
红外热显微镜术参数_optotherm红外热成像仪-立特为智能熟知的产品了，但是在国内，由于展的时间比国外较晚，所以很多的人并不是很懂热像仪的使，这就要求现在的术人员和工人热像仪都要有一定的操能力。下面就让我们，红外热显微镜术参数_optotherm红外热成像仪-立特为智能校正系数线性区内。2、热像仪散热挡板校正有什么影响？红外热像仪经常在闭的环境中使，系统散热效果不佳，红外热像仪的功耗几乎全部转化为热量，在系统内堆积，随着，红外热显微镜术参数_optotherm红外热成像仪-立特为智能不同工艺