新型 MarSurf 系列 CD、GD 和 VD 是可提供速度和灵活性的精密产品。
操作周期改善 65 %，是其速度的有力证据。灵活性在于大测量范围、工件灵活性（甚至高达 80 kg）和简单的固定系统。它还支持可重复性，因此有高精度。
MarSurf VD 有一个的功能，就是使用一个系统即可完成高精度的轮廓和粗糙度测量。只需更换 粗糙度测量系统，即可完成高度准确的粗糙度测量。
一个平台，很多优势
MarSurf 系列的所有机器都在通用平台上运行。
高速测轴和自动化测量序列可缩短测量时间
创新的固定系统，安装和更换简单快速
磁性底板，无需工具便可快速更换测杆
宽敞的支撑板和大测量范围：测量大型工件的理想选择
更换测针系统无需工具
优化的测针系统，一个测量站即可实现高精度的粗糙度和轮廓测量：
运行过程中更换，减少更换时间
可以使用轮廓测针系统测量粗糙度，同时有很高的测量范围
数字接口，安全性高
更换测针系统，保证高准确度的粗糙度测量
测量快速且简单
简单的夹持系统能够安全、快速且正确地定位工件。使用了高速测轴和新测针系统，测量本身的速度可提高 65%（示例为在销上测量）。
整个流程可使用高速 CNC 测轴和 MarWin 自动完成。这有助于进一步降低工艺成本。
产品特性
新型 MarSurf 系列 CD、GD 和 VD 是可提供速度和灵活性的精密产品。
操作周期改善 65 %，是其速度的有力证据。灵活性在于大测量范围、工件灵活性（甚至高达 80 kg）和简单的固定系统。它还支持可重复性，因此有高精度。
MarSurf VD 有一个的功能，就是使用一个系统即可完成高精度的轮廓和粗糙度测量。只需更换 粗糙度测量系统，即可完成高度准确的粗糙度测量。
技术规格
MarSurf VD 140 | Art.-Nr. 6269020
分辨率 with roughness probe system:
Measuring range 1: 7.6 nm
Measuring range 2: 0.76 nm
with contour probe system:
max. 6 nm (with 210 mm probe arm)
测杆长度 with roughness probe system:
45 mm to 135 mm
with contour probe system:
210 mm to 490 mm
导块偏差 0.07 μm / 20 mm（带测头系统 BFW 250）
0.35 μm / 60 mm
0.4 μm / 140 mm
测量速度 10 mm/s
扫描长度末尾（X 方向） 140 mm
定位速度 0.02 - 200 mm/s (X)
测头 Roughness probe system (skidless)
Contour probe system
测量范围 mm 带测头系统 BFW 250
500 μm (±250 μm)，用于 45 mm 测针长度
1500 μm (±750 μm)，用于 135 mm 测针长度
带测头系统 C 11
70 mm，测杆长 350 mm
100 mm，测杆长 490 mm
扫描长度 0.1 mm to 140 mm
测量力 (N) with roughness probe system:
0.7 mN
4 mN to 30 mN, adjustable via software
