ATE检测系统功能构造
通盘而论，两大部类，〔1〕核心测试构造：承袭于传统的测试技术，检测技术，自动的实施信号处理（电子信号测量）。针对不同的DUT的测试提案不同，核心测试构造也会有所不同。〔2〕计算机控制构造：处理的速度和能力，取决于当时的计算机能力。计算机技术事实上已经变成了通用技术了，对于一套ATE来说，高指标的计算机不见得是多好的计算机，满足系统的需要，协调才是更好的标准。事实上，复杂的ATE设备的价格，相对于先进的高指标的fu务器价格来说，相当于巨人跟侏儒的婴儿的关系了。 总体上来说，计算机技术的作用，控制系统的协调，控制信号的注入路径，控制数据的采集和处理，等等。
在所有的电子元器件(Device)的制造工艺里面，存在着去伪存真的需要，这种需要实际上是一个试验的过程。为了实现这种过程，就需要各种试验设备，这类设备就是所谓的ATE(Automatic Test Equipment)。 这里所说的电子元器件 DUT(Device Under Test)，当然bao括IC类别，此外，还bao括分立的元件，器件。ATE存在于前道工序(Front End)和后道工序(Back End)的各个环节，具体的取决于工艺(Process)设计的要求。
TE是Automatic Test Equipment的缩写，根据客户的测试要求、图纸及参方案，采用MCU、PLC、PC基于VB、VC开发平台，利用TestStand&LabVIEW和JTAG/Boundary Scan等技术开发、设计各类自动化测试设备。
ATE测试由DMM，程控电源，DAQ Card, 单片机，继电器，PLC，气缸，Fixture等组成的电信号自动采集系统，广泛运用于ICT,FCT等测试设备。软件部分采用NI LABView编写，全自动依次采集并判定PASS/FAIL,自动生成测试报表并上传数据库.
